• 

      <track id="mbr66"><i id="mbr66"></i></track>
      1. 

        <span id="mbr66"><video id="mbr66"></video></span>
        <span id="mbr66"><output id="mbr66"><b id="mbr66"></b></output></span>
      1. 
 

  

        
    
        
    	
        
        	
            
        
        
    
        
    
        
    
    
     
 


        
  
         
    
        
      
      
         
      
        
          
        
            
        資訊中心 
        
            
        
              
        
                
              
        
              
              
        
            
        
            
            
        
          
        
          
          
            
        
            
          
        
          
        
        

  
    
        
        
          
        
            
        您目前所在位置：首頁  »  資訊中心  »  產品知識產品知識 
        
            
        
              
        
            
        
        
        還在到處尋求微細工件的測量方法嗎？
        
        
        來源：本站 更新時間:2022-6-20 16:46:00  瀏覽量：
        
        
         
           
        
        

        近年來，汽車電動化、5G通信、IoT技術的日益升級和技術革新正在以前所未有的速度不斷進化。精密零部件的加工和測量也正在發生很多變化：

        面對表面形狀的日益精細化，傳統的影像測量機的自動對焦變得越發困難。
        例)對直徑10μm以下的凹形形狀很難實現對焦。


        工件形狀的橫縱比越來越大，影像測量機因為光學上的限制，在測量時容易產生高度上的誤差。

        對任意斷面的尺寸測量的要求越來越多。


        對于這些發展需求，大多數的用戶通過使用多類型測量機共同完成，不但增加了測量室的成本，在多臺設備之間切換測量也會大大降低工作效率。
        如果將這些測量功能集于一身，會是一臺怎樣的設備？


        由此，配備白光干涉鏡頭的影像測量機Hyper Quick Vision WLI系列應運而生了。

        WLI：White Light Interferometer（白光干涉）


        WLI的測量原理

        白色光分成兩道光束，一道光束射向干涉物鏡內的參考反射鏡，另一道光束射向被測物。
        當干涉物鏡在Z方向上掃描時，僅在與被測物對焦的位置上產生白色的干涉條紋。
        在找到該條紋的強度最高位置后，通過CCD照相機檢出各個像素，即可計算出被測物的3D形狀。

        測量原理示意圖


        WLI測量機的特長

        Hyper Quick Vision WLI系列配備了雙鏡頭——影像光學測頭和WLI光學測頭，在一臺機器上同時實現2D坐標/尺寸、3D形狀測量的非接觸式測量。


        ●2D/3D測量無縫切換，提升測量效率
        配備雙鏡頭，可實現一機兩用，測量模式可無縫切換。在完成影像測量后，無需更改設置即可切換到3D測量，實現連續測量，提升效率。


        ●雙鏡頭可輕松確定目標測量位置
        使用低倍率·廣視角的光學鏡頭進行定位后，即使切換到高倍率的WLI光學鏡頭，也能輕松鎖定測量位置，實現高效率測量。

        影像光學測頭和WLI光學鏡頭的偏移量經過高精度的校準

        ●輕松對應多種測量表面
        WLI方法擅長應對多種測量表面，包括漫反射表面和鏡像表面。
        憑借三豐開發的算法，WLI光學測頭支持測量畫面明暗度差異大的工件表面。

        測量示例：塑料和金屬的混合材料的工件表面

        ●本體結構保證大范圍也能高精度測量
        WLI系列采用固定橋式和移動工作臺的構造，有利于X軸、Y軸相互獨立運動，保證高精度測量。此外還標配了氣動式自動調平隔振器除振臺，提高測量的穩定性。



        測量應用示例

        WLI光學鏡頭可實現零點幾微米的高精度3D形狀測量，在細微部分的表面分析、小徑孔深、基板配線尺寸等測量發揮威力。

        ＊半導體封裝基板 


        ＊激光加工孔


        ＊金屬薄膜


        ＊電極